Hitachi3D显微镜

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.6, 0.7 nm

... 这两种型号配置自动获取大量数据的功能。FE-SEM是用于观察、测量和分析样品细微结构的场发射扫描电子显微镜，因此被广泛用于半导体、生命科学和材料研发等领域。未来，数据驱动开发的进步需要庞大的数据支撑，为此，日立高新技术特推出此系列产品，支持短时间内获取大量数据，减轻用户的负担。 *1. FE-SEM：Field Emission Scanning Electron Microscope （场发射扫描电子显微镜） SU8600、SU8700的开发背景 FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富， ...

创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。 高性能电子光学系统 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)＊ 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能，低至100 V成像 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析 性能优异 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配备高灵敏度低真空探测器(UVD)＊ 开仓室快速简单换样(最大样品尺寸: ...

倍率: 600,000, 800,000, 1,000,000 unit
空间分辨率: 0.14, 0.19, 0.2 nm

... kV透射电子显微镜系列，包含配备高衬度透镜，实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备高分辨率透镜的HT7830。 全新操作可应对日常工作。 我们将竭诚为您提供合适的TEM解析解决方案。 特点 日立的双隙物镜设计，支持低倍率下的大视野高反差观察与高分辨率观察 凭借在明亮环境中的数字化操作环境和各种自动功能，从初学者到熟练者均可操作 通过全新设计的"Image Navigation"功能，可轻松搜寻视野和拍摄图像 配备全自动图像拼接功能、三维重构、STEM ...

空间分辨率: 4, 1.6, 2.1 nm

... 日立最新开发的 FIB-SEM 系统 NX9000 采用了优化布局，可进行真正的高分辨率连续切片，以满足三维结构分析以及 TEM 和 3DAP 分析的最新需求。NX9000 FIB-SEM 系统可在先进材料、电子设备、生物组织和其他众多应用领域实现最高精度的材料加工。 功能特点 SEM 柱和 FIB 柱呈正交排列，优化了三维结构分析的柱定位。 高亮度冷场发射电子源和高灵敏度光学器件相结合，支持从生物组织到磁性材料等各种材料的分析。 微取样系统和三重光束系统可为 ...