Malvern/马尔文帕纳科光谱仪

... 非破坏性分析 ：广泛的分析含量范围 (ppm – %) 有利于 降低稀释的必要并减少相关错误 特点 高灵敏度 由马尔文帕纳科设计并生产的薄窗银靶X射线管可确保高质量和高灵敏度。选用的银靶材料非常适合对磷、硫和氯进行定量，没有 XRF 光谱中可能出现的谱线重叠的干扰，提供的结果更加可靠。 50 kVX射线管和发生器是激发锌等较高能量元素的理想选择，帮助缩短分析时间。 高灵敏度 独立系统 内置计算机运行 Microsoft ...

Zetium 系列X射线荧光光谱仪 元素分析 X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。 Zetium 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF ...

... WDXRF光谱仪可同时测量多达28种元素，浓度范围从ppm到100%，是理想的解决方案。准确而稳健的分析、经验不足的工作人员易于操作、高运行时间与低拥有成本并驾齐驱。 快速获得时间关键型应用的结果 Axios FAST 元素分析仪只需几秒钟即可获得分析结果，是时间关键型应用和高样品处理量分析环境的理想工具。主要应用领域包括钢铁与金属合金生产，以及每天需要分析数百样品的地质或商业实验室。 高样品处理量 凭借高速样品处理和操作可靠性，Axios ...

... 台式 XRF 的优势 Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。 低运行成本 Epsilon 4 不需要使用昂贵的酸、气体和通风柜，如在 ICP 和 AAS 中。 唯一要求是电源供电，在某些情况下使用氦气提升样品中轻元素的灵敏度。 同样，XRF 光谱仪中的各种成分不会暴露在摩擦或高温下，因此可以存留很多年。 非破坏性分析 使用 ...

半导体薄膜计量解决方案 2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。

波长: 350 nm - 2,500 nm

... FieldSpec 系列光谱辐射仪相同的光谱仪配置，这些便携式实验室仪器采用NIR 技术，可快速、无损地测量各种材料，并具有绝对精度。 ASD LabSpec 光谱仪可轻松适应多种分析应用。 对于那些需要分光光度计的应用，ASD LabSpec 提供内置的光纤光源。 ASD LabSpec 4 光谱仪针对快速分析进行了优化，是快速移动实验室环境的理想分析仪器，无需样品制备即可提供即时结果。 每天以高分析吞吐速率评估数百个样品。 实时识别液体和固体的光谱特性。 无损测量意味着无需样品制备 ...

波长: 350 nm - 2,500 nm

ASD LabSpec® 4 Hi-Res 分析仪器 出色的光谱分辨率，可实现清晰的特征识别 ASD LabSpec® 4 Hi-Res 分析光谱仪设计用于分析具有清晰光谱特征的材料，这些材料可能需要更准确的光谱数据才能进行准确的检测和识别。