Malvern/马尔文帕纳科光谱仪

... 非破坏性分析 ：广泛的分析含量范围 (ppm – %) 有利于 降低稀释的必要并减少相关错误 特点 高灵敏度 由马尔文帕纳科设计并生产的薄窗银靶X射线管可确保高质量和高灵敏度。选用的银靶材料非常适合对磷、硫和氯进行定量，没有 XRF 光谱中可能出现的谱线重叠的干扰，提供的结果更加可靠。 50 kVX射线管和发生器是激发锌等较高能量元素的理想选择，帮助缩短分析时间。 高灵敏度 独立系统 内置计算机运行 ...

2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。

波长: 350 nm - 2,500 nm

... FieldSpec 系列光谱辐射仪相同的光谱仪配置，这些便携式实验室仪器采用NIR 技术，可快速、无损地测量各种材料，并具有绝对精度。 ASD LabSpec 光谱仪可轻松适应多种分析应用。 对于那些需要分光光度计的应用，ASD LabSpec 提供内置的光纤光源。 ASD LabSpec 4 光谱仪针对快速分析进行了优化，是快速移动实验室环境的理想分析仪器，无需样品制备即可提供即时结果。 每天以高分析吞吐速率评估数百个样品。 实时识别液体和固体的光谱特性。 无损测量意味着无需样品制备 ...

波长: 350 nm - 2,500 nm

ASD LabSpec® 4 Hi-Res 分析光谱仪设计用于分析具有清晰光谱特征的材料，这些材料可能需要更准确的光谱数据才能进行准确的检测和识别。 概述 ASD LabSpec® 4 Hi-Res 分析仪器的 3 nm VNIR、6 nm SWIR 光谱分辨率可在 350-2500 nm 的光谱范围内提供稳定可靠的性能。 ...

... 软件包含了满足具有丰富经验的用户要求的分析能力和功能。 自动化 Axios FAST 专门的软硬件接口允许灵活地连接样品传送设备和主机，实现全自动的分析。 Axios FAST也是 TEAMworks（全元素分析系统）解决方案的基础，它结合了直读光谱和 X 射线荧光光谱。

... XRF 的优势 Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。 低运行成本 Epsilon 4 不需要使用昂贵的酸、气体和通风柜，如在 ICP 和 AAS 中。 唯一要求是电源供电，在某些情况下使用氦气提升样品中轻元素的灵敏度。 同样，XRF 光谱仪中的各种成分不会暴露在摩擦或高温下，因此可以存留很多年。 非破坏性分析 使用 ...

X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。 Zetium 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 ...