TESCAN 高解析度显微镜

... TESCAN MIRA的第四代扫描电子显微镜（SEM）带有FEG肖特基电子发射源，在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取，使MIRA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS，在一个Essence™软件窗口中有效结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持，可立即获得最佳的成像和分析条件 ...

... 用于亚纳米级纳米材料表征的UHR SEM 对下一代材料（如催化剂结构、纳米管、纳米颗粒和其他纳米级结构）进行高分辨率和高对比度成像。 适用于亚纳米尺度的SEM/STEM计量的优秀平台 电子束的快速设置--飞行中的光束追踪™保证了最佳的成像条件 多检测器系统TriBE™和TriSE™用于样品的纳米表征 直观的软件模块化平台设计，无论用户的技术水平如何，都可以轻松操作 ...

... 用于低温和室温结构分析的多用途Ga FIB-SEM TESCAN AMBER用于生命科学，是一种尖端的Ga FIB-SEM解决方案，为生物样品的结构分析提供了多功能的能力。它将Ga FIB的高精度研磨能力与BrightBeam™ UHR SEM无缝结合，可在常温和低温条件下对各种生物样本进行亚表面探索。TESCAN AMBER凭借其卓越的设计，有效地满足了研究中心和研究所的各种挑战性要求。 TESCAN AMBER具有多种功能，使其成为低温和室温结构分析的最佳选择。其一流的GaFIB ...

... TESCAN AMBER X是一款高性能聚焦等离子体离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM），适用于超大体积分析和高通量低温应用。TESCAN AMBER X配备了iFIB+柱子，支持以前用Ga FIB系统进行的低温FIB应用，只需一小部分时间，就能获得等离子体FIB固有的超快材料去除率。隐藏在样品深处的特征可以在几分钟内暴露出来，而使用传统的Ga FIB研磨则需要几个小时。 AMBER X cryo非常适用于坚硬的生物材料，如骨骼或贝壳，可以很容易地以FIB系统所期望的精度进行切片。TESCAN ...