AFM光谱仪 IconIR

红外FT-IR纳米技术

布鲁克公司的大样品 Dimension IconIR™ 系统将纳米级红外 (IR) 光谱和扫描探针显微镜 (SPM) 结合在一个平台上，为学术研究人员和工业用户提供了最先进的光谱、成像和属性绘图功能。IconIR 融合了数十年的研究和技术创新成果，在 Dimension Icon® 业界最佳原子力显微镜测量功能的基础上，提供了无与伦比的性能。该系统可通过增强的分辨率和单层灵敏度实现相关显微镜和化学成像，而其独特的大样品结构则为最广泛的应用提供了最大的样品灵活性。 生产力 引导式工作流程和可编程平台 通过本质上易于使用的 AFM-IR 技术提供最高的测量效率。 多模态 化学和性质绘图 提供定量的纳米化学、纳米机械和纳米电气数据。 5 纳米以下 获得专利的光热 AFM-IR 成像技术 以单层灵敏度实现最高分辨率、最佳信噪比表征。 独一无二的纳米红外功能和性能 在单个系统中，IconIR 可提供最高性能的纳米级红外光谱、化学成像分辨率和单层灵敏度。 只有 Dimension IconIR 能够提供： 高性能纳米红外光谱，具有准确、可重复的傅立叶变换红外相关性、小于 5 纳米的化学分辨率和单层灵敏度 利用 PeakForce Tapping® 纳米机械和纳米电气模式进行相关化学成像 最高性能的原子力显微镜成像和无与伦比的样品灵活性，可容纳大量样品*。