AFM显微镜 Icon®

用于研究落地式高解析度

布鲁克公司的 Dimension Icon® 为科学和工业领域的纳米级研究人员带来了最高水平的性能、功能和 AFM 便捷性。该系统以世界上最常用的大样品原子力显微镜平台为基础，是数十年技术创新、客户反馈和行业领先的应用灵活性的结晶。该系统自上而下的设计实现了革命性的低漂移和低噪音，使用户能够在数分钟而不是数小时内获得无伪影图像。 最高性能 尖端扫描仪 提供无与伦比的大样本分辨率，具有开环噪声水平、更低的本底噪声和 <200 pm 的漂移率。 简便 生产率 提供令人惊讶的简单设置、直观的工作流程和快速的结果，每次都能获得出版质量的数据。 用途广泛 开放存取平台 适用于最广泛的实验、模式、技术和半自动测量。 特点 最高性能和分辨率 Dimension Icon 的卓越分辨率与布鲁克公司专有的电子扫描算法相结合，大大提高了用户的测量速度和质量。Icon 是布鲁克公司业界领先的针尖扫描原子力显微镜技术的结晶，采用温度补偿位置传感器，使 Z 轴的噪音水平达到亚埃级，XY 轴的噪音水平达到埃级。这在大样本、90 微米扫描范围的系统中表现非凡，超过了高分辨率原子力显微镜的开环噪声水平。