ContourX-100 光学轮廓仪以同类最佳的价格为精确、可重复的非接触式表面测量树立了新的标杆。该系统占地面积小,采用了布鲁克公司数十年来专有的白光干涉仪(WLI)创新技术,在精简的封装中提供了不折不扣的 2D/3D 高分辨率测量功能。下一代增强功能包括全新的 500 万像素摄像头和更新的平台,可实现更大的拼接能力,以及全新的测量模式 USI,为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供了更大的便利性和灵活性。没有比 ContourX-100 更物有所值的台式系统了。
行业最佳
Z 分辨率
提供恒定、精确的测量,不受放大倍数的影响。
无与伦比
计量价值
在不影响测量能力的前提下实现简化设计。
用户友好
软件界面
可直观访问大量预编程过滤器和分析库。
无与伦比的计量
WLI 可为所有目标提供恒定、极致的垂直分辨率。
ContourX-100 轮廓仪是四十多年来专有光学创新的结晶,在非接触式表面计量、表征和成像领域处于行业领先地位。该系统采用 3D WLI 和 2D 成像技术,一次采集即可进行多项分析。ContourX-100 在从 0.05% 到 100% 反射率的所有表面情况下都表现出色。
无与伦比的价值和分析
数以千计的定制分析以及布鲁克公司简单而强大的 VisionXpress™ 和 Vision64® 用户界面、
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