FT-NIR光谱仪 MATRIX-F II

屡获殊荣的 MATRIX-F II 傅立叶近红外光谱仪 傅立叶近红外（FT-NIR）过程监测 Direct process measurements with FT-NIR Spectroscopy 如今，许多制造商不仅致力于生产具有最佳品质的成品，还希望通过将实验室分析技术应用于工厂，来改进生产效率。通过加大对生产过程的监控，制造商将能优化物料利用，减少甚至消除不合格产品的产生，从而最终避免造成再加工和废弃处理成本。 傅立叶近红外分析技术的实时在线监控的优势已众所周知。然而，传统的光谱仪只能安装在靠近监控生产线的地方，这意味着将分析操作人员暴露在高温高湿、噪音、粉尘等恶劣环境中。而且，测量点有时很难接近，甚至是防爆等危险区。 通过利用光纤技术，MATRIX-F 主机可与实测点相距数百米，将探头直接安装在采样点，大大简化了工业现场测试的难度。此外，当环境特别恶劣时可将主机置于带空调的工业小屋内，这样可以消除极端温度影响，进一步优化光谱仪的性能，还可以保护 MATRIX-F，防止其遭受过度污垢和灰尘。 常见的过程控制包括监测化学反应以及中间产品和成品的质量： 直接监测生产反应器和管道中样品 远距离测量 加深过程理解和控制 用于测定不同行业混合过程均匀性、化学品组分浓度和聚合过程状态的理想工具