光学粒度分析仪 VASCO KIN™
动态光散射激光原位

光学粒度分析仪 - VASCO KIN™ - CORDOUAN Technologies - 动态光散射 / 激光 / 原位
光学粒度分析仪 - VASCO KIN™ - CORDOUAN Technologies - 动态光散射 / 激光 / 原位
光学粒度分析仪 - VASCO KIN™ - CORDOUAN Technologies - 动态光散射 / 激光 / 原位 - 图像 - 2
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产品规格型号

所用技术
动态光散射, 光学, 激光
其他特性
远距离, 原位

产品介绍

VASCO KIN™ 是新一代时间分辨仪器,与原位非接触式远程光学头相结合,可进行精确的动力学分析。它可以实时监测纳米粒子的合成、团聚或悬浮液的稳定性。 通过单次连续测量,VASCO KIN™ 可以获得反应的所有表征数据(粒度分布、散射强度、相关图等)。 主要特点和优势 稳频激光和无误差雪崩光电二极管 (APD) 检测器 → 测量精度高 → 极低散射样品 嵌入式专用 PC,包括软件关联和完整的专用软件 NanoKin® → 用户友好界面 → 用于时间分辨分析和后分析的光子计数存储 → 包括动力学分析在内的完整报告 增强型数学模型 → 结果可靠性更高 → 随时间变化的粒度分布二维彩色图 主要规格 测量原理光纤动态光散射(DLS) 测量配置:原位/非接触式远程探头 粒度范围 0.5 纳米至 10 微米 浓度范围:高达 40% wt* 测量时间:2 秒至 12 小时 时间分辨率:低至 200 毫秒 占地面积小,无移动部件,易于集成到恶劣环境中

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。