X光头影测量平板探测器 EVS 2430C

手提式9 x 12

76µm低剂量高分辨率成像 成像处理技术专利, TRUVIEW®ART 单次曝光头颅扫描时间0.5秒 精准测量 低辐射剂量，高诊断精确性 EVS 2430C是一种间接型(CsI)动态x射线探测器，旨在由x射线系统制造商集成到产品中。 EVS 2430C具有低噪声和高速电子移动等高性能，是颅部成像的最佳解决方案。 76μm低剂量高分辨率图像 -卓越的分辨率，以76um最小的像素尺寸发行于市场 - FOCUS(荧光剂CsI升级结构)闪烁体在低剂量条件下也能展现超低噪声和出色的信噪比 - 低剂量条件下>70%DQE值 -各种颅部测量点采集，包括聚焦场、单侧和双侧颞下颌关节、双颌、鼻窦和颌面 专利图像处理技术:TRUVIEW®ART 高级的光散射校正图像重建技术 单次曝光0.5秒 减少患者移动造成的失真&获取清晰的图像 精确测量 EXPD2430C清晰的颅部影像表现，可精确测量颅面与正畸复合体。