实验室软件 Hitachi map

分析测量3D

使用日立最新的高速 4 段背散射电子探测器，无需倾斜样品或手动收集连续图像，即可生成三维模型。 在灵活的布局显示屏上直接进行编辑。 支持各种测量，如高度、面积和体积，以及符合 ISO 标准的□表面粗糙度。 自动、可追溯的分析工作流程，包括报告创建。 功能 日立地图 3D 软件概述 Hitachi map 3D 可生成三维图像，而无需倾斜样品/平台或移动图像。 Hitachi map 3D 利用高速分段式背散射电子探测器 (BSED) 同时捕捉所有四个方向的图像。 灵活的剖面分析 自动收集样品表面或横截面剖面的表面粗糙度和结构高度数据，或在两点之间进行各种测量。 从 3D 地图中的任意点显示横截面剖面图 可从三维图像的垂直点、水平点和对角线上自由选择测量位置。 无论何时改变测量位置，测量结果都会实时响应。 可在用户定义的线剖面上进行高度和角度测量。 可对表面或横截面上的两个点之间进行 X、Y 和 Z 分析。 可测量三维地图图像上两点之间的距离、Z 高度、坡度或角度。 高清三维图像显示 用户可选择多种三维渲染模式进行表面特征描述。动画可应用于三维图像并保存为视频文件。