自动样本制备系统 ArBlade 5000 / IM5000-CTC
用于电子显微镜检查冷却离子束铣削

自动样本制备系统 - ArBlade 5000 / IM5000-CTC - Hitachi High-Tech Europe GmbH - 用于电子显微镜检查 / 冷却 / 离子束铣削
自动样本制备系统 - ArBlade 5000 / IM5000-CTC - Hitachi High-Tech Europe GmbH - 用于电子显微镜检查 / 冷却 / 离子束铣削
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产品规格型号

运行模式
自动
应用
用于电子显微镜检查
配制类型
冷却, 离子束铣削
配置
台式

产品介绍

ArBlade 5000 / IM5000 扩展了 IM4000 II 系列的横切能力,可根据实际需要将横切面宽度扩展至 10 毫米。为此,在横切过程中,样品会在先前登记的加工区域内定期横向移动,同时保持在最佳聚焦位置。还可选择对多个单独位置进行连续加工;选配的多样品支架最多可自动加工 3 个样品。 ArBlade 5000 / IM5000 配备了功能更强大的离子枪,每小时去除率超过 1 毫米。使用 ArBlade 5000-CTC,还可以在可定义的加工温度(低至 -100 °C)下加工宽度可变的冷冻横截面。 产品特点 - 坚固耐用、便于维护的潘宁型离子枪,可独立控制束流和加速电压。可在所有加速电压(0-8 千伏)下产生密集离子束 - 通过定期移动样品与离子束的相对位置,可灵活选择 1 毫米至 10 毫米宽的横截面宽度 - 在掩膜上方有 100 微米突出、平台摆动幅度为 +/-30° 的情况下,硅的横截面加工深度为每小时 1000 微米或更多 - 可在 0° 至 90° 的倾斜角度下进行表面抛光,角度可在加工过程中改变

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展厅

该卖家将出席以下展会

CONTROL 2025
CONTROL 2025

6-09 5月 2025 Stuttgart (德国)

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    Analytica 2026
    Analytica 2026

    24-27 3月 2026 München (德国)

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。