离心沉淀纳米粒度分析仪 CN-300

离心沉淀纳米粒度分析仪 - CN-300 - HORIBA Scientific/厚利巴
离心沉淀纳米粒度分析仪 - CN-300 - HORIBA Scientific/厚利巴
离心沉淀纳米粒度分析仪 - CN-300 - HORIBA Scientific/厚利巴 - 图像 - 2
离心沉淀纳米粒度分析仪 - CN-300 - HORIBA Scientific/厚利巴 - 图像 - 3
离心沉淀纳米粒度分析仪 - CN-300 - HORIBA Scientific/厚利巴 - 图像 - 4
离心沉淀纳米粒度分析仪 - CN-300 - HORIBA Scientific/厚利巴 - 图像 - 5
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
 

产品规格型号

所用技术
离心沉淀

产品介绍

通过离心法测量高分辨率粒度分布。 Partica CENTRIFUGE CN-300 的测量范围为 10 nm - 40 μm,离心力高达 30,000g 并采用温度控制,可对各种样品进行精确测量。 该分析仪是根据客户的反馈意见开发的,在现有技术和 HORIBA 新技术的基础上进行了改进,操作安全可靠,使用方便。 实现未稀释到稀释样品的精确粒度分布测量 离心分离法的主要特点是在按粒度分类后测量粒度。因此,一次分析即可获得多种高精度结果。Partica CENTRIFUGE 可以通过两种测量技术进行测量:线性启动模式 "和 "均匀模式"。 可捕捉少量异物颗粒或结块 Partica CENTRIFUGE 具有高分辨率,可捕获少量异物颗粒。该仪器可在整个粒度分布范围内(包括小颗粒)以及粒度分布的低区获得可靠的测量结果。 即使长时间测量也能获得稳定的测量结果 样品室和转子的冷却功能可防止样品在旋转过程中温度升高。这样可以保持粘度恒定,从而提高测量结果的可靠性。Partica CENTRIFUGE 的设计使操作更安静、更简便、更安全。

---

PDF产品目录

该产品还没有PDF产品手册

查看HORIBA Scientific的所有产品目录
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。