为了满足 RoHS/ELV 和分析有害元素的要求,HORIBA 推出了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。自 2002 年以来,已有 1000 台 X 射线荧光分析仪在全球范围内得到应用,满足了客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。2012 年,我们推出了直观的 MESA-50 X 射线荧光分析仪。2013 年,MESA-50 系列又增加了一款带有大样品室的新型 MESA-50。 它配备了先进的无 LN2 探测器。 可选配砷/锑分析功能和多层薄膜 FPM。
特点
1.快速
硅漂移检测器 (SDD) 大大缩短了测量时间,提高了灵敏度,实现了真正的高通量分析。
2.体积小
MESA-50K 采用大尺寸腔体,但不影响最小占地面积。
可通过 USB 与电脑连接。
3.操作简单
减少日常维护工作(无 LN2 操作)
无需真空泵
直观简单的测量过程,适用于所有材料类型
4.智能
英语/日语/中文用户界面
Excel® 数据管理工具
5.安全
无需担心 X 射线泄漏
规格
基本项目
原理 - 能量色散 X 射线荧光光谱仪
目标应用 - RoHS、ELV、无卤素
测量元素 - 13Al - 92U
样品类型 - 固体、液体、粉末
X 射线发生器
X 射线管 - 最大 50kV,0.2mA
X 射线照射尺寸 - 1.2mm、3mm、7mm(自动切换)
X 射线初级过滤器 - 4 种类型(自动切换)
探测器
类型 - SDD(硅漂移探测器)
信号处理器 - 数字脉冲处理器
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