近端龋齿诊断。釉质裂缝检测复合成像
龋齿诊断和复合成像。
只需一套系统。
可转换,用途广泛。
借助先进的手柄,不仅可以在眨眼间更换探头,还可以在几秒钟内将白光灯更换为紫外灯。
DIA-STICK 套件。
套装包括
- 手柄
- 白光
- 龋齿探针
- 通用探针
- LR1 电池
- 紫外线灯(可选)
紫外线灯
带有紫外线灯和通用探头的 DIA-STICK 是使复合材料残留物可见的理想工具(专门用于荧光复合材料)。
龋齿探针
龋齿探针带有特殊的斜面,用于早期检测近髓龋。
临床研究表明,在透射光的帮助下,龋齿缺陷的检测率是镜子和探针的两倍多。Pieper 教授的研究表明,即使与 X 射线检查相比,使用光纤也能看到更多的龋齿。
通用探针 用于表面透视和检测牙釉质裂缝和根管的通用探针。
通用探针
技术 LED
控制 按钮
适配器系统 探针可插拔 灯拧紧
电池
技术 3x LR1,可更换
运行时间约 100 小时
外壳(手柄)
材料 不锈钢
长度 150 毫米
直径 14 毫米
重量 75 克
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