质谱光谱仪 JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0

飞行时间用于生命科学台式

基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱仪 点击播放按钮开始播放视频（约 4 分钟）。 JMS-S3000 是一款 MALDI-TOFMS*，采用了创新的 SpiralTOF 离子光学技术。 JMS-S3000 已经发展成为 SpiralTOF™-plus 2.0，具有更宽的动态范围。JMS-S3000 定义了 MALDI-TOFMS 性能的新标准，为功能合成聚合物、材料科学和生物分子等广泛的研究领域提供了最先进的分析解决方案。 基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱仪 减少基质晶体的形貌效应 基质晶体的地形效应会导致离子的飞行起始位置不同，从而造成飞行时间的差异。在传统的离子光学系统中，这种时间差会降低质量分辨能力以及通过外部质量校准获得的质量精度。JMS-S3000 通过延长飞行距离，将这种影响降至最低，并通过外部质量校准实现了高度可重复的质量分辨力和高质量精度。在对生物标本进行成像分析时，可以保持较高的质量分辨率和质量精度，因为在这种分析中，需要在大面积范围内采集大量质谱，而且标本表面很可能是不平整的。 实现宽动态范围 SpiralTOF™-plus 2.0 通过大大改进检测系统，实现了宽动态范围。这使得同时检测离子强度相差约 4 个数量级的峰成为可能。