光学显微镜 JSM-IT810

SEMFE-SEM用于生命科学

JSM-IT810 系列 FE-SEM 集多功能性和高空间分辨率于一身。 内置的无编码自动化成像和 EDS 分析功能可简化高效的工作流程。 新功能可确保为所有 SEM 用户提供高质量的数据和更好的用户体验。 这些功能包括 SEM 自动调整软件包、梯形校正功能（适用于 EBSD 测量）以及用于观察表面形貌的实时 3D 表面重建。 有了 JSM-IT810 系列，操作 FE 扫描电镜变得前所未有的简单。 功能特点 自动观察和分析功能 "Neo Action 只需设置分析条件和选择要测量的区域，即可自动进行 SEM 观察和 EDS 分析。 SEM 自动调整软件包 SEM 自动调整软件包（可选）：该功能使用专用样品来执行放大率校准、光束对准和 EDS 能量校准。定期检查可确保设备保持最佳状态。 实时三维功能 选择我们的多分段半导体型 BSE 探测器，创建样品表面的实时三维重建。 实时查看三维图像，检查样品拓扑结构。 EDS 集成 新一代操作性消除了 SEM 观察与 EDS 元素分析之间的障碍。可在观察屏幕上直接预留点、区域、MAP 和线等各种分析方法，以便立即开始分析。