自动样本制备系统 POLISHER™
用于电子显微镜检查冷却表面

自动样本制备系统 - POLISHER™ - Jeol/日本电子株式会社 - 用于电子显微镜检查 / 冷却 / 表面
自动样本制备系统 - POLISHER™ - Jeol/日本电子株式会社 - 用于电子显微镜检查 / 冷却 / 表面
自动样本制备系统 - POLISHER™ - Jeol/日本电子株式会社 - 用于电子显微镜检查 / 冷却 / 表面 - 图像 - 2
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产品规格型号

运行模式
自动
应用
用于电子显微镜检查
配制类型
冷却
样本类型
表面
配置
台式

产品介绍

IB-19520CCP在加工过程中利用液氮冷却,能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下,也能将样品快速冷却、恢复到室温,并且可以拆卸。配有传送机构,在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程 ★ 进程监控功能 截面加工状态可通过CCD相机实时监控,倍率还可调整。 ★ 防止充放电的喷镀功能 备有离子束溅射功能(选配项) 可以喷涂颗粒感良好的薄涂层。 最适合于象EBSD等需要花样识别等情况。 ★ 平面离子减薄样品架 以小角度的离子束低角度照射样品,达到清除表面污垢、平滑表面等效果。 另外也非常适合于选择性蚀刻。 ★ 截面样品制备单元 安装在平面离子减薄样品架上使用。该单元可用于在旋转样品的同时进行离子束加工。 可以用来制备象多孔质材料、粉末、纤维等容易出现加工条纹的样品的截面。

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