X射线显微镜 GRAND ARM™2

TEMSTEM实验室

这种新型的 "GRAND ARM™2 "可以在很宽的加速电压范围内进行超高空间分辨率的观测和高灵敏度的分析。 FHP2 新开发的物镜极片 FHP 物镜杆件针对超高空间分辨率观测进行了优化。 在保持这一功能的同时，还针对大型双 SDD（158 平方毫米）的 X 射线实体角和起飞角进一步优化了极片形状。 因此，FHP2 的有效 X 射线探测效率是 FHP 的两倍多。它可以提供亚埃施尔（sub-angstrom）分辨率的 EDS 元素图。 TEM 柱由箱式外壳覆盖，可减少温度、气流、声噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。 ETA 校正器和 JEOL COSMO™ 快速准确的像差校正 JEOL COSMO™ 仅使用从任何非晶区域获取的 2 个 Ronchigram 来测量和校正像差。 因此，该系统无需专用试样即可提供快速准确的像差校正。 提高稳定性 与 GRAND ARM™2 相比，新型 CFEG（冷场发射电子枪）采用了更小的 SIP 和更大的排空体积。SIP 排空体积的增大提高了 CFEG 内部发射器附近的真空度，同时也提高了发射和探测电流的稳定性。SIP 的小型化可使 CFEG 的总重量减少约 100 千克。 CFEG 的减重提高了显微镜的抗振性。