光学显微镜 DM3 XL

实验室检查直

在微电子和半导体行业的检测、过程控制或缺陷和故障分析中，速度很重要。检测缺陷的速度越快，您的反应就越快。 增加30%的视野 DM3 XL检测系统具有较大的视野，可以让您的团队更快地发现缺陷，提高产量。利用独特的宏观物镜增加30%的视野。