STEDYCON 通过直接成像,无需重建或后处理,就能对纳米尺度进行成像,横向分辨率是宽场显微镜的 6 倍以上。
使用与外荧光和共聚焦成像相同的熟悉标记协议,可实现优于 40 纳米的 XY 分辨率。
主要特点
系统小巧,分辨率小于 40nm
使用专用的 STED 仪器扩展成像功能,或将 STED 功能添加到现有的显微镜成像系统(如旋转盘或点扫描共焦)中,即插即用,极其稳定,并能获取横向分辨率优于 40 nm 的图像。
STEDYCON 的激光器通过获得专利的 easySTED 光学排列进行设计对准,使仪器始终处于成像就绪状态;无需校准程序。
2 色 STED 成像
STEDYCON 支持多达 4 个共焦通道和 2 个 STED 通道的成像,可进行多维采集(X、Y、Z 和延时)。
与 NIS-Elements 结合使用时,可实现去噪、解卷积、二维和三维分析、跟踪等功能。
动态PLUS
DynamicPLUS 功能可为 STED 和共焦应用提供无与伦比的性能。雪崩光探测器(APD)的量子效率高达 69%(650 纳米)。这意味着,即使信号电平较低,APD 仍能收集大量光子,生成有意义的图像。
STED 成像和旨在接近生理条件的低标记密度实验就是典型的例子。同时,DynamicPLUS 的死区时间补偿功能还能为高信号样品(如明亮的共聚焦图像)提供清晰的图像。
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