AZtecWave结合了WDS的独特功能及EDS的速度和灵活性,可解析X射线谱峰,对微量元素和痕量元素进行定量分析。AZtec软件完全集成了EDS能谱仪和WDS波谱仪的各项操作,保证适合于所有专业水平的用户,同时Tru-Q®处理技术可保证结果的准确性。对于具有挑战的显微分析,AZtecWave能快速准确地给出答案。
提高元素识别和成分分析的准确度
微量元素的识别,测量水平低至数十ppm
轻重元素均具有优异的性能
在所有浓度水平上准确测定元素的成分
在AZtec平台中,完全集成了EDS和WDS分析的工作流程
利用来自EDS和SEM的实时输入,优化WDS设置,确保获得准确结果
准确度和灵敏度达到新水平
提高元素识别和成分分析的准确性,如某些元素谱峰在EDS谱图中有明显重叠
微量元素的识别和测量水平低至数十ppm
对所有浓度水平的元素进行准确定量
用能谱仪 (EDS) 测量常量元素,用WDS测量谱峰严重重叠或痕量元素
解决冶金、电子、矿物学/地质学、陶瓷、法医学和核能发电各行业成分表征的挑战
所有类型用户均可使用
在AZtec平台中,完全集成了EDS和WDS分析的工作流程
新技术利用了EDS和SEM端的实时数据输入而优化WDS设置,确保在很短的采集时间内为所有级别的用户提供出色的结果
独特的三路控制,在采集前优化束流,采集时间和精度
有经验的用户也可手动控制
EDS和SEM信息自动采集并优化设置:
采集时间
线系
衍射晶体
背景位置
EDS采集参数
EDS探测器位置
WDS 谱图扫描:
晶体
狭缝尺寸
狭缝位置
驻留时间