显微操作器 OmniProbe 350

OmniProbe 350是三轴、端口安装式机械手，其特点是具有闭环反馈的压电马达，非常适合常规的TEM薄片制备。精确直观的控制意味着您可以快速、自信地工作，而不存在损坏或丢失样品的风险。 概述 基于第9代探针设计，OmniProbe 350提供精确的纳米级控制。其紧凑的端口安装设计，最大限度地减少与其他探测器和附件的干扰。凭借稳定的探针平台和亚纳米压电马达，这一代的探针具有低振动、低漂移和卓越的定位精度。再结合直观的用户界面，其运动方向是基于所见的图像进行校准的。 其结果是为常规样品提取（lift-out）提供了一流的性能。结合可变倾角栅网样品台，OmniProbe 350可以轻松制备plan-view样品和TKD样品，而无需手动处理栅网或复杂的多步骤提取。 特征 优越的线性度——线性度测量的是探针尖端与要求的运动方向之间的偏差。在所有方向上可以沿直线移动的探针可以： 安全的提取，而不会碰到槽壁 制备TEM薄片更快，只需要开挖更小的沟槽 直观的用户界面——通过软件控件探针就像直接在电子图像中移动 平滑的连续运动——薄片制备工作流程要求探针进行物理接触，平滑运动确保这一过程不会有掉落或损坏样品的风险。 精确移动——可存储位置 点击一下，即可从完全缩回位置移动到操作位置 保存用户定义的工作位置 稳定的探针平台——稳定是对抗振动和漂移的。将样品附着到探针尖端是通过气体沉积过程完成的，该过程可能需要几分钟。在此过程中，尖端的任何漂移或振动都可能导致样品内部产生应力，或样品在自由切割点处突然移动 稳定的Omniprobe平台使闲置时的振动和漂移降至最低，降低了这些风险 端口安装式设计——在不使用时完全缩回腔室，因此不会影响您的显微镜 不限制样品大小 不限制样品台倾斜 不干扰其他探测器或附件 探头电气连接——包括用于电压衬度成像的+/-10V电源 低噪音选项可与第三方电子设备结合，以执行EBIC、EBAC和其他电气测试方法。