X射线衍射仪 MiniFlex

用于研究

台式粉末 X 射线衍射 (XRD) 仪器 多晶材料的定性和定量相分析 MiniFlex 台式 X 射线衍射仪是一种多用途粉末衍射分析仪器，可测定：晶相鉴定（相 ID）和定量、结晶度百分比（%）、晶粒尺寸和应变、晶格参数细化、里特维尔德细化和分子结构。它广泛应用于科研领域，特别是材料科学和化学领域，以及工业领域的研究和质量控制。它是理学 MiniFlex 系列台式 X 射线衍射分析仪的最新成员，理学早在几十年前就推出了最初的 MiniFlex XRD 系统。 配备 HPAD 探测器的 X 射线粉末衍射仪 MiniFlex XRD 系统采用创新技术，包括 HyPix-400 MF 2D 混合像素阵列探测器 (HPAD)、可用的 600 W X 射线源和新型 8 位自动样品更换器，实现了速度和灵敏度的提升。 混合像素阵列探测器（HPAD） 这种新型直接光子计数探测器可实现高速、低噪声的数据采集，可在 0D 和 1D 模式下进行传统 XRD 分析，也可在 2D 模式下进行粗晶粒和/或优选取向的样品分析。 XRD 附件增强了 MiniFlex 的功能 提供各种 X 射线管阳极、一系列样品旋转和定位附件以及各种温度附件，以确保 MiniFlex X 射线衍射 (XRD) 系统具有足够的通用性，能够执行具有挑战性的定性分析。