高分辨率能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析仪
固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析
对于要求更高的应用,或分析时间或样品吞吐量至关重要的情况,理学提供了新型 NEX QC+ 光谱仪。采用新一代硅检测器技术,增强型 NEX QC+ 大大提高了元素峰分辨率和计数统计量,为最具挑战性的测量提供了卓越的定标和测量精度。
用于质量控制应用的 EDXRF
新型理学 NEX QC+ 专为常规质量控制应用而设计,具有直观的 "图标驱动 "触摸屏界面,操作简单,并内置打印机,使用方便。
EDXRF 精确度高,元素覆盖面广
快门式 50 kV X 射线管和珀尔帖冷却半导体探测器具有优异的短期重复性和长期再现性,以及出色的元素峰值分辨率。这种高电压能力(50 千伏)与多个自动 X 射线管过滤器一起,提供了广泛的应用多样性和低检测限 (LOD)。
带有自动进样器和氦气吹扫选项的 EDXRF
选件包括自动样品更换器、样品旋转器和氦气吹扫,可提高光元素灵敏度。
功能特点
从钠 (Na) 到铀 (U) 的非破坏性元素分析
性能优越,经济实惠
适用于固体、液体、合金、粉末和薄膜
重量轻、占地面积小,无需外接 PC
图标驱动的触摸屏界面和内置打印机
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