XRF光谱仪 NEX DE VS

EDXRFX射线检查

可变光斑尺寸能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪 用于固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析 新型 Rigaku NEX DE VS 是一款高性能小（可变）光斑台式 EDXRF 元素分析仪，采用易于学习的基于 Windows® 的 QuantEZ 软件，可提供广泛的元素覆盖范围。从钠 (Na) 到铀 (U)，几乎可对任何基体进行小点分析 - 从固体、薄膜和合金到粉末、液体、浆料和薄膜。 在现场、工厂或实验室进行 XRF 元素分析 NEX DE 专为重工业应用而设计，无论是在工厂车间还是在偏远的现场环境中，其卓越的分析能力、灵活性和易用性都使其在不断扩大的应用范围中更具吸引力，包括勘探、研究、批量 RoHS 检测和教育，以及工业和生产监控应用。无论是基本的质量控制 (QC)，还是更复杂的变体，如分析质量控制 (AQC)、质量保证 (QA) 或统计过程控制（如六西格玛），NEX DE 都是 XRF 常规元素分析的可靠、高性能之选。 配备 60 kV X 射线管和 SDD 检测器的 XRF 60 kV X 射线管和珀尔帖冷却硅漂移探测器具有出色的短期可重复性和长期可重复性，以及卓越的元素峰值分辨率。这种高电压能力（60 千伏）以及高发射电流和多个自动 X 射线管过滤器，为 XRF 应用提供了广泛的多功能性和低检测限 (LOD)。