X射线检测系统 Phoenix V|tome|x S240

医疗

具有无与伦比的灵活性和效率的工业扫描仪 检测技术的进步为 2D X 射线检测和 3D 计算机断层扫描（microCT 和 nanoCT®）以及 3D 计量带来了一款多功能的高分辨率系 由于 microCT 扫描速度提高了 2 倍，分辨率也提高了一倍，现在对小型资产的 CT 扫描比以往任何时候都更加高效。 Phoenix V|tome|x S240 是全球为数不多的将高效的 Dynamic 41 探测器检测仪技术和 High-flux|target 结合起来的 CT 系统之一。它具备更快的扫描速度和更精确的扫描精度，能够生成高质量的图像，而且在真正意义上推动了检测领域的革命。 无论您是需要提高速度，检测细节，还是两者，Baker Hughes 旗下 Waygate Technologies 的 Phoenix V|tome|x S240 都能很好地完成任何 3D 工业或科学 microCT 任务。这款 CT 扫描仪特别适用于应对电子、研发、科学和汽车行业的检测挑战。 为了实现高度的灵活性，V|tome|x S240 可以选配 180 kV/20 W 高功率纳米聚焦 X 射线管和 240 kV/320 W 微聚焦 X 射线管。 由于这种独特的组合，该系统是多种应用的理想工具，适用于低吸收能力材料的超高分辨率 nanoCT 扫描（细节检测能力达到 0.2 微米），以及对重达 15 kg、直径达 500 mm 的高吸收性物体进行 3D 分析（使用 microCT）。 优势 可选择多种配置。 可实现灵活的开放式纳米聚焦-微聚焦双管组合（例如 180 kV/20 W 大功率纳米聚焦 X 射线管） 根据检测任务的不同，有 3 种不同的探测器可供选择，例如具有卓越分辨率的 DXR S100 Pro，在 100 μm 像素尺寸下具有 2,500 x 3,000 像素 超级可靠。 灯丝寿命延长 10 倍，通过 Long-life|filament（耐久灯丝）确保长期稳定性，优化系统效率 能够在不影响图像质量的情况下提高速度。 采用 Diamond|window（金刚石窗口），在相同的高图像质量水平下，数据采集速度可提高 2 倍 通过可选的 Offset|scan（偏移|扫描）和 Helix|scan（螺旋|扫描）功能，最大限度地提高了扫描灵活性 高效的 Dynamic 41 探测器技术和 High-flux|target 实现了保证高质量结果的高吞吐量 特点 Dual|tube：240 kV / 320 W 微聚焦 X 射线管，针对 CT 应用进行了专门优化，可选择与高能微聚焦 X 射线管结合使用 Helix|CT：扫描较长的零部件，且提高了图像质量，帮助高效、轻松地提升检测率 (POD) Offset|CT：扫描更大的零部件，扫描体积最大增加约 70% Orbit|scan：定义虚拟扫描旋转轴，便于扫描调整和灵活 ROI CT 扫描 Long-life|filament：灯丝寿命延长 10 倍，通过 Long-life|filament（耐久灯丝）确保长期稳定性，优化系统效率 Phoenix Datos|x CT 软件：轻松实现数据采集、批量处理和评估的全自动化 全面的 2D 检测能力：可实现高度灵活的射线检测的机械手倾斜轴 (+/-45°) Flash! 图像优化：新一代卓越的缺陷检测，可根据 2D 电子器件和铸件检测进行优化 应用 内部缺陷分析 3D 量化孔隙分析 灵活 2d X 射线检测 启用 nanoCT 的材料结构分析 组件控制 CAD 标称/实际数据比较 是全球安装数量最多的双管 CT 系统，已售出约 500 套，无论是 2D 射线照相检测，还是 microCT 和 nanoCT，都具有独特的灵活性。 近期推出的新一代 V|tome|x S 系统比前代更加完善。