光学光谱仪 Omni-λ series

车尔尼-特纳NIR近红外紫外线

在第四代光谱仪基础上，于2015 年全新推出第五代高通光量、宽光谱影像校正光谱仪。通过采用非球面镜进行影像校正，*大限度地抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从而提高了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力。通过巧妙的设计，提升了整个CCD 探测面的影像质量（间接的增大了波段的使用范围，更便于多通道光纤的使用），也因为成像质量的提高，使得影像校正光谱仪还可以被用于空间分辨的实验，实现多通道实时探测。该系列产品在诸多光学性能上，如分辨率、杂散光抑制比等，与国际同类型高端产品性能全面接轨。 侧入口可接电子快门； 采用C-T结构设计，采用超环面影像校准设计； 多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率； 适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（>1m）波段的*优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率； 更好的杂散光抑制比，达到1×10-5； 仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化，更极大提高了通讯速率； 采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动控制， 定位更**； 可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等。