紫外线分光光度计 ZLX-AS

用于测量反射率用于吸光率测量

ZLX-AS 系统专为高质量测量而设计，对各种固体和液体样品的吸收、透射和反射具有出色的杂散光性能。通过选择适当的光源、单色仪光栅和检测器，该系统可配置用于紫外至红外光谱范围。事实上，通过使用 Omni-λ300 或更长焦距的单色仪，该系统可以从紫外到红外连续扫描，因此非常适合传统分光光度计难以表征的一系列样品。大型样品室是完全模块化的，可根据应用需要接受各种薄膜、比色皿和固体样品架，并具有完全可调的光学系统，以优化信号。如果需要进行漫反射测量，还可以添加可选的积分球。