控制测量仪

用于分光计自动模块化

模块化设计，适用于等离子体发射光谱测量系统的发射光谱测量 光纤或空间光耦合 空间位置的精确定位测量 光谱范围：200-2500nm 或 1μm-14μm 光谱分辨率：优于 0.05nm（@1200g/mm 光栅） 波长精度：优于 ±0.2nm 波长重复性：优于 ±0.1nm 光谱软件包括滤光片轮控制、光谱曲线绘制功能、自动测量功能、 数据计算、存储和打印功能 OmniES-Blackbody 黑体辐射光谱测量系统 系统测量相对或绝对黑体辐射光谱曲线，模块化设计 光纤或空间光耦合 光谱范围：200-2500nm 或 1μm-14μm 光谱分辨率：优于 0.05nm（@1200g/mm 光栅） 波长精度：优于 ±0.2nm 波长重复性：优于 ±0.1nm OmniES-Laser 激光源光谱测量系统 模块化设计，适用于测量发射光谱 光纤光或空间光耦合 光谱范围：200-2500nm 或 1μm-14μm 光谱分辨率：优于 0.05nm（@1200g/mm 光栅） 波长精度：优于 ±0.2nm 波长重复性：优于 ±0.1nm