控制测量仪 DSR500-LBIC

用于医疗器械台式

卓立汉光经过多年研究，推出基于振镜显微系统的LBIC 系统。本设备有着快速扫描，高分辨等特点，可以广泛应用于：单晶硅、多晶硅、非晶硅、有机半导体、染料敏化等各类太阳能电池研究，也可以应用于GaN 等光电器件的研究。对光电探测器的量子效率， 器件的电阻分布特征，研究太阳能电池光生电流的不均匀性，研究器件吸收和电荷生成的微区特性，以及光电材料界面，半导体结区的品质分布等提供可靠的分析数据。 产品概述 产品简介 微纳光电成像测试系统是一种利用显微成像手段，通过不同波长激光进行探测，分析表征光电子器件的短路电流分布，表面缺陷， 反射率等参数。并通过扫描获得的图像，分析各种参数的平面均匀性，为光电器件的结构优化提供参考。 卓立汉光经过多年研究，推出基于振镜显微系统的LBIC 系统。本设备有着快速扫描，高分辨等特点，可以广泛应用于：单晶硅、多晶硅、非晶硅、有机半导体、染料敏化等各类太阳能电池研究，也可以应用于GaN 等光电器件的研究。对光电探测器的量子效率， 器件的电阻分布特征，研究太阳能电池光生电流的不均匀性，研究器件吸收和电荷生成的微区特性，以及光电材料界面，半导体结区的品质分布等提供可靠的分析数据。 系统结构描述： 激光通过扫描透镜，扫描振镜，成像透镜，由显微镜聚焦到样品表面，激光激发样品产生光电流，光电流信号通过探针引出至电流源表，再通过软件在软件中读出。扫描时，振镜是通过电压控制器控制光束的偏转角度，激光的光斑在样品的XY 方向上扫描移动， 软件记录每一个激光聚焦光斑的位置和其对应的电流值，在软件上同步描绘出光电流成像图，显示了样品的电流分布。由于采用振镜结构，光斑移动在物镜处是不同位置入射，而不是不同角度入射，因此可以保证入射到样品不同位置的光斑模式不会变化 整个系统的结构如下图所示：包含 ■ 光源（激光器或者连续光源）， ■ 显微镜，扫描振镜， ■ 数字源表， ■ 探针台和计算机软件等。 产品特点 ■ 多路激光波长可选； ■ 样品更换方便； ■ 探针可整体位置二维移动，方便测试样品的不同位置； ■ 样品为静止状态下实现扫描（mapping），消除普通位移平台模式下的震动影响。 ■ 软件可视化，可任意选取扫描范围（测试区间位置通过框图的方式选取，实现了可视范围即扫描范围） 应用领域 纳米材料，二维材料，晶圆分析，探测器光电性能检测， 面阵探测器Pixel 检测，器件电荷生成的微区特性等等 电脑配置： 主机：i7，16G 内存，256G 固态+2T 机械硬盘， 2G 独显；21.5 英寸电脑显示器 软件功能： 光斑位置移动； 选取测试区域； 实现监控开关； IV曲线参数设置； 实时显示测试数据和测试点位置； 显示测试进度和测试用时间； 功能： 阈值处理；局部放大，等高线显示，三维显示，单点测试数据显示，导出txt，excel 数据等。