{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Auto SE是一种新型的按键式全自动薄膜测量分析工具，仅需简单的几个按键操作，即可完成全自动测量和分析。
HORIBA Scientific/厚利巴
... HORIBA Scientific 的 Smart SE 是一款多功能光谱椭偏仪，用于快速准确地测量薄膜。它可以测量从几埃到 20 微米的薄膜厚度、光学常数 (n,k) 和薄膜结构特性（如粗糙度、光学分层和各向异性层等）。 从 450 纳米到 1000 纳米的光谱范围可在几秒钟内完成测量，并使用 DeltaPsi2 软件平台对椭偏仪数据进行分析。该软件集成了两个级别的软件，既可通过预定义配方进行常规分析，也可通过最先进的椭偏模型进行高级分析。 Smart SE ...
HORIBA Scientific/厚利巴
... Angstrom Advanced 树立了椭偏仪的标准--以最实惠的价格提供最好的椭偏仪技术。Angstrom Advanced 提供用于薄膜厚度测量、折射率光学表征和消光系数分析（n 和 k）的全系列椭偏仪。我们的椭偏仪可用于多种不同的应用，并被麻省理工学院、美国国家航空航天局、加州大学伯克利分校、耶鲁大学、杜克大学、美国国家标准与技术研究院等最负盛名的实验室采用。 使用二极管阵列探测器或电机光谱仪（单色仪）在 250 - 1100 nm 的紫外/可见/近红外范围内进行快速测量 可将光谱范围扩展至近红外（700 ...
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