纳米技术光谱仪

波长: 10 nm

... 布鲁克公司的大样品 Dimension IconIR™ 系统将纳米级红外 (IR) 光谱和扫描探针显微镜 (SPM) 结合在一个平台上，为学术研究人员和工业用户提供了最先进的光谱、成像和属性绘图功能。IconIR 融合了数十年的研究和技术创新成果，在 Dimension Icon® 业界最佳原子力显微镜测量功能的基础上，提供了无与伦比的性能。该系统可通过增强的分辨率和单层灵敏度实现相关显微镜和化学成像，而其独特的大样品结构则为最广泛的应用提供了最大的样品灵活性。 生产力 引导式工作流程和可编程平台 通过本质上易于使用的 ...

布鲁克 Anasys 的宽带nanoIR3-s 是最先进的基于 s-SNOM 的纳米级 FTIR 光谱系统，具有高分辨纳米化学成像和纳米光学成像能力，可提供最广的光谱范围（670 — 4000 cm⁻¹）。该系统采用最新的 OPO/DFG 飞秒激光技术，搭载业界领先的 Anasys nanoIR3-s 平台，具有卓越的性能、集成度和灵活性。 宽带nanoIR3-s系统的独特功能，帮助研究人员在广泛的研究领域取得新发现，包括 2D 材料、生物样品、催化以及高分子材料。 可以获得高质量、高分辨纳米光学图像，用于表征各种光学现象，如六方氮化硼（hBN）表面声子极化子，石墨烯等离子体，以及生物样品和其他有机样品的化学成像。

... 为半导体研发、故障分析和纳米污染物识别增加了 300 毫米的取样通道 Dimension IconIR300™ 大样品纳米红外系统为半导体应用提供高速、高精度的纳米级表征，具有无与伦比的功能、样品尺寸和材料类型灵活性。IconIR300 结合了专有的光热红外光谱和纳米级原子力显微镜属性映射功能，可在最广泛的晶圆和光掩膜样品上实现自动晶圆检测和缺陷识别。该系统将原子力显微镜-红外技术的应用范围大大扩展到半导体行业的各个细分领域，超出了传统技术的范围。 IconIR300 ...

... 布鲁克公司的 Anasys nanoIR3-s 系统将散射扫描近场光学显微镜 (s-SNOM) 和纳米级红外光谱 (AFM-IR) 与集成原子力显微镜 (AFM) 结合在一个平台上。在 Anasys 基于原子力显微镜的纳米光学表征技术领先传统的基础上，nanoIR3-s 提供了纳米级红外光谱、化学成像和光学特性绘图，并在二维材料样品上展示了 10 纳米的空间分辨率。该系统还能以纳米级的分辨率进行原子力显微镜形貌成像和材料特性绘图，使其成为广泛材料科学应用领域相关研究的理想仪器。带有宽带选项的 ...

波长: 10 nm

... nanoIR3 是最新一代的纳米级红外光谱、化学成像和属性绘图系统，适用于材料和生命科学应用。该系统还提供基于红外的化学成像，以绘制相关特征的化学变化图。独特的点光谱功能可通过单一光源实现光谱和化学成像。 无模型 红外光谱 可可靠地获取纳米级吸收数据。 攻丝 AFM-IR 以最高空间分辨率执行化学绘图，同时提供高质量的红外光谱。 超级光谱 成像 扩展光谱范围，应用更加广泛。 nanoIR3 为纳米级表征提供了一套全面的功能。独特的 POINTspectra ...

波长: 185 nm - 1,100 nm
长度: 100 mm
高度: 42 mm

... 一台强大而灵活的光谱仪，适合在您的手掌上使用 完美的通用解决方案 改进的光学设计--同类中的佼佼者 用户可更换狭缝和滤光片 紫外-可见-近红外 (185-1100 nm) 光纤光谱仪 包括LightScan软件 FLEX是我们新系列光谱仪中的第一款产品。所有光学元件都精确地组装在一个坚固、紧凑、轻巧的台架上，使FLEX光谱仪在整个工作波长范围内具有更高的灵敏度、极大的峰值对称性和低杂散光，使该系列光谱仪成为最通用的光谱应用的完美解决方案。 用户可更换狭缝和滤光片、电源状态指示器和触发功能等功能为您的光谱设置提供了简便性和灵活性。FLEX有即用型（适用于更常见的应用）和用户定制型（适用于更特殊的应用）两种配置，有标准型和改进型分辨率版本。 完美的通用解决方案，适用于光谱应用 FLEX结构紧凑，设计灵活，在提高灵敏度的同时，能够提供出色的性能，并能集成到大多数通用的光谱设置中。 极低杂散光的最佳光学器件 对于有吸光度/透光度测量需求的用户，FLEX是完美的解决方案。光学和机械设计的同时优化，使FLEX具有非常低的杂散光比例（在整个操作光谱范围内低于0.1%）。 ...