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倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.7, 1.2, 0.4 nm
专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 特点 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.0 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。 具有电子光学系统自动调整功能。
Hitachi High-Tech Europe GmbH
倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.6, 0.8, 0.9 nm
随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能。 超高分辨观察和超强分析能力 日立的高亮度肖特基场发射电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下，仅用0.1 kV的低加速电压仍可进行高分辨观察，适应更多应用场景。同时，可搭配多种新型探测器和其他丰富的选配项，满足更多的观测需求。 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.6, 0.7 nm
日立高新技术公司（以下简称日立高新技术）此次推出两款FE-SEM*1“SU8600”和“SU8700”（以下简称此系列产品），这两种型号配置自动获取大量数据的功能。FE-SEM是用于观察、测量和分析样品细微结构的场发射扫描电子显微镜，因此被广泛用于半导体、生命科学和材料研发等领域。未来，数据驱动开发的进步需要庞大的数据支撑，为此，日立高新技术特推出此系列产品，支持短时间内获取大量数据，减轻用户的负担。 *1. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
倍率: 1 unit - 2,000,000 unit
蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。
ZEISS Microscopy/卡尔蔡司
... LVEM5 是世界上最小的商用透射电子显微镜，具有传统 TEM 中的所有标准成像模式。LVEM5 可以在透射（TEM - 透射电子显微镜）或衍射（SAED - 选区电子衍射）模式下工作，也可以在扫描模式下工作（STEM - 扫描透射电子显微镜和 SEM - 扫描电子显微镜 avec BSE - 背散射电子），空间分辨率可达纳米级。 组件 电子枪采用肖特基场发射器，亮度高，相干性好，使用寿命长达数千小时。电子枪的高亮度和小型虚拟源允许传输和扫描模式。 电子光学中使用了永磁透镜、静电透镜以及静电定影器和消影器 ...
倍率: 1,000,000 unit
... 该界面是所有TESCAN SEM和FIB-SEM仪器的核心。在TESCAN VEGA Compact上学习的操作者可以很容易地过渡到其他TESCAN显微镜上，或者调整Essence软件环境的一些功能，以配合实验室中其他仪器的图形用户界面。 主要优点 VEGA Compact的大样品室提供了分析多个样品或大型样品的空间，以及真正的高真空以获得可靠的EDS结果，使样品处理速度更快。 利用TESCAN可选的完全集成的Essence™ ...
TESCAN GmbH
... TESCAN VEGA的第四代扫描电子显微镜（SEM）带有钨丝电子源，在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取，使VEGA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS，它在一个Essence™软件窗口中有效地结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持，可立即获得最佳的成像和分析条件 ...
TESCAN GmbH
... TESCAN MIRA的第四代扫描电子显微镜（SEM）带有FEG肖特基电子发射源，在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取，使MIRA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS，在一个Essence™软件窗口中有效结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持，可立即获得最佳的成像和分析条件 ...
TESCAN GmbH
倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.4, 0.7 nm
专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 特点 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。
Hitachi High-Technologies
空间分辨率: 0.5 nm - 3 nm
... 即使低加速电压下也能获得充足的探针电流(100nA@5kv), 这可帮助用户在对SEM参数进行微小调整的情况下，进行高分辨观察、高速元素面分析、EBSD分析、软X射线分析。 2. Neo Engine（New Electron Optical Engine） 配备本公司电子光学技术精华的新一代电子光学控制系统，可在调整各种参数的同时进行稳定的观察。此外，该系统还具有增强的自动功能，更易于使用。 3. SEM ...
Jeol/日本电子株式会社
... 直到今天，您对经济实惠、易于使用的高分辨率成像工具的选择仍然有限。有了我们的电子显微镜，您就可以在亚微米和纳米尺度上进行观察。 我们的个人扫描电子显微镜(SEM)可以帮助您超越光学的限制。 扫描电镜的放大倍数是传统光学显微镜的20倍，它将高分辨率成像与极易使用相结合。工程师、研究人员、教育工作者和学生只需经过10分钟的培训，就能制作出高质量的亚微米图像。 该系统是对亚微米颗粒、纤维、微型工具、电子元件等进行详细成像的理想选择。光学相机、电动平台和触摸屏用户界面一起工作，帮助您从24倍 ...
倍率: 150 unit
空间分辨率: 5 nm
... 可以完美观察样品。 - 允许用成对的SE立体图像或从4个BSE图像进行三维重建 - 可为EBSD提供70度的倾斜（选择）。 - 最大样品尺寸：直径80mm，厚度40mm 易于使用的图形界面 带有平台导航器的CCD相机 附在SEM上的CCD相机可以捕捉到样品架和样品的图像。 该图像会自动加载到SEM软件中。 要在样品上移动，只需点击图片，平台就会移动。 标准规格 高达5120*3560像素的图像 光束分辨率5纳米(SE) 4个可变孔径和连续可变光斑尺寸 高真空和低真空模式 SE和BSE检测器 双重模式 1 ...
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