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倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 4, 15, 3 nm
... 可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* 红外CCD探测器，提高了样品台移动的安全性 ■支持全视野移动。SEM MAP支持超大样品的全视野观察 与GUI联合，可配备样品仓室导航相机 覆盖整个可观察区域 支持360度旋转 ②随着各种自动化功能的强化，操作性能得到了进一步优化。 ■一个鼠标就能够轻松操作的简约GUI ■各种自动化功能 ...
倍率: 50,000, 60,000, 10,000, 30,000, 15,000 unit
空间分辨率: 4, 5 nm
... 可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质 全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力 全新的定位功能“SEM ...
倍率: 10 unit - 250,000 unit
重量: 54 kg
长度: 617, 614 mm
... 通过控制该检测器，来检测电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL：带有CL信息的图像）。 TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。 凭借EDS分析（选配），可进行更高计数率解析。 可实现在广域范围内进行SEM观察。 搭配自动马达台，可实现低倍率，高精度，大范围的观察分析。 EM 样品台（选配） 可轻松观察 STEM 图像 与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用，可轻松观察小倍率 ...
... LVEM5 是世界上最小的商用透射电子显微镜，具有传统 TEM 中的所有标准成像模式。LVEM5 可以在透射（TEM - 透射电子显微镜）或衍射（SAED - 选区电子衍射）模式下工作，也可以在扫描模式下工作（STEM - 扫描透射电子显微镜和 SEM - 扫描电子显微镜 avec BSE - 背散射电子），空间分辨率可达纳米级。 组件 电子枪采用肖特基场发射器，亮度高，相干性好，使用寿命长达数千小时。电子枪的高亮度和小型虚拟源允许传输和扫描模式。 电子光学中使用了永磁透镜、静电透镜以及静电定影器和消影器 ...
... 只需设置分析条件和选择要测量的区域，即可自动进行 SEM 观察和 EDS 分析。 SEM 自动调整软件包 SEM 自动调整软件包（可选）：该功能使用专用样品来执行放大率校准、光束对准和 EDS 能量校准。定期检查可确保设备保持最佳状态。 实时三维功能 选择我们的多分段半导体型 BSE 探测器，创建样品表面的实时三维重建。 实时查看三维图像，检查样品拓扑结构。 EDS ...
Jeol/日本电子株式会社
倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.4, 0.7 nm
专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 特点 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。
Hitachi High-Technologies
倍率: 1,000,000 unit
... 该界面是所有TESCAN SEM和FIB-SEM仪器的核心。在TESCAN VEGA Compact上学习的操作者可以很容易地过渡到其他TESCAN显微镜上，或者调整Essence软件环境的一些功能，以配合实验室中其他仪器的图形用户界面。 主要优点 VEGA Compact的大样品室提供了分析多个样品或大型样品的空间，以及真正的高真空以获得可靠的EDS结果，使样品处理速度更快。 利用TESCAN可选的完全集成的Essence™ ...
TESCAN GmbH
... 直到今天，您对经济实惠、易于使用的高分辨率成像工具的选择仍然有限。有了我们的电子显微镜，您就可以在亚微米和纳米尺度上进行观察。 我们的个人扫描电子显微镜(SEM)可以帮助您超越光学的限制。 扫描电镜的放大倍数是传统光学显微镜的20倍，它将高分辨率成像与极易使用相结合。工程师、研究人员、教育工作者和学生只需经过10分钟的培训，就能制作出高质量的亚微米图像。 该系统是对亚微米颗粒、纤维、微型工具、电子元件等进行详细成像的理想选择。光学相机、电动平台和触摸屏用户界面一起工作，帮助您从24倍 ...
倍率: 150 unit
空间分辨率: 5 nm
... 可以完美观察样品。 - 允许用成对的SE立体图像或从4个BSE图像进行三维重建 - 可为EBSD提供70度的倾斜（选择）。 - 最大样品尺寸：直径80mm，厚度40mm 易于使用的图形界面 带有平台导航器的CCD相机 附在SEM上的CCD相机可以捕捉到样品架和样品的图像。 该图像会自动加载到SEM软件中。 要在样品上移动，只需点击图片，平台就会移动。 标准规格 高达5120*3560像素的图像 光束分辨率5纳米(SE) 4个可变孔径和连续可变光斑尺寸 高真空和低真空模式 SE和BSE检测器 双重模式 1 ...
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