SEM显微镜

... LVEM5 是世界上最小的商用透射电子显微镜，具有传统 TEM 中的所有标准成像模式。LVEM5 可以在透射（TEM - 透射电子显微镜）或衍射（SAED - 选区电子衍射）模式下工作，也可以在扫描模式下工作（STEM - 扫描透射电子显微镜和 SEM - 扫描电子显微镜 avec BSE - 背散射电子），空间分辨率可达纳米级。 组件 电子枪采用肖特基场发射器，亮度高，相干性好，使用寿命长达数千小时。电子枪的高亮度和小型虚拟源允许传输和扫描模式。 电子光学中使用了永磁透镜、静电透镜以及静电定影器和消影器 ...

... 只需设置分析条件和选择要测量的区域，即可自动进行 SEM 观察和 EDS 分析。 SEM 自动调整软件包 SEM 自动调整软件包（可选）：该功能使用专用样品来执行放大率校准、光束对准和 EDS 能量校准。定期检查可确保设备保持最佳状态。 实时三维功能 选择我们的多分段半导体型 BSE 探测器，创建样品表面的实时三维重建。 实时查看三维图像，检查样品拓扑结构。 EDS ...

倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.4, 0.7 nm

专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 特点 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。

倍率: 1,000,000 unit

... 该界面是所有TESCAN SEM和FIB-SEM仪器的核心。在TESCAN VEGA Compact上学习的操作者可以很容易地过渡到其他TESCAN显微镜上，或者调整Essence软件环境的一些功能，以配合实验室中其他仪器的图形用户界面。 主要优点 VEGA Compact的大样品室提供了分析多个样品或大型样品的空间，以及真正的高真空以获得可靠的EDS结果，使样品处理速度更快。 利用TESCAN可选的完全集成的Essence™ ...

... 直到今天，您对经济实惠、易于使用的高分辨率成像工具的选择仍然有限。有了我们的电子显微镜，您就可以在亚微米和纳米尺度上进行观察。 我们的个人扫描电子显微镜(SEM)可以帮助您超越光学的限制。 扫描电镜的放大倍数是传统光学显微镜的20倍，它将高分辨率成像与极易使用相结合。工程师、研究人员、教育工作者和学生只需经过10分钟的培训，就能制作出高质量的亚微米图像。 该系统是对亚微米颗粒、纤维、微型工具、电子元件等进行详细成像的理想选择。光学相机、电动平台和触摸屏用户界面一起工作，帮助您从24倍 ...

倍率: 150 unit
空间分辨率: 5 nm

... 可以完美观察样品。 - 允许用成对的SE立体图像或从4个BSE图像进行三维重建 - 可为EBSD提供70度的倾斜（选择）。 - 最大样品尺寸：直径80mm，厚度40mm 易于使用的图形界面 带有平台导航器的CCD相机 附在SEM上的CCD相机可以捕捉到样品架和样品的图像。 该图像会自动加载到SEM软件中。 要在样品上移动，只需点击图片，平台就会移动。 标准规格 高达5120*3560像素的图像 光束分辨率5纳米(SE) 4个可变孔径和连续可变光斑尺寸 高真空和低真空模式 SE和BSE检测器 双重模式 1 ...

倍率: 25 unit - 200,000 unit
重量: 330 kg
长度: 835 mm

... FusionScope 是一款 AFM/SEM 关联显微镜，其设计初衷就是让您能够无缝利用这两种分析方法。在大多数分析中，通常需要使用多种技术分析样品，以寻找参数之间的相关性。对于原子力显微镜（AFM）和扫描电子显微镜（SEM）等成像技术而言，这往往意味着您需要分析完全相同的区域。FusionScope 不需要将样品从一个显微镜移到另一个显微镜，也不需要使用两个不同的操作系统来分析样品上的同一位置，而是在同一用户界面上对同一位置进行协调互补测量。这一切都将转化为一个易于使用的系统，能够快速提供更有用 ...