{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.6, 0.7 nm
日立高新技术公司（以下简称日立高新技术）此次推出两款FE-SEM*1“SU8600”和“SU8700”（以下简称此系列产品），这两种型号配置自动获取大量数据的功能。FE-SEM是用于观察、测量和分析样品细微结构的场发射扫描电子显微镜，因此被广泛用于半导体、生命科学和材料研发等领域。未来，数据驱动开发的进步需要庞大的数据支撑，为此，日立高新技术特推出此系列产品，支持短时间内获取大量数据，减轻用户的负担。 *1. FE-SEM：Field Emission Scanning ...
倍率: 20 unit - 8,000,000 unit
空间分辨率: 0.1, 0.08 nm
通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。 透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。 对于包括高端用户在内的广泛用户，我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。 特点 标配日立生产的照射系统球差校正器（附自动校正功能） 搭载具有高辉度、高稳定性的冷场FE电子枪 镜体和电源等的高稳定性使机体的性能大幅度提升 ...
倍率: 600,000, 800,000, 1,000,000 unit
空间分辨率: 0.14, 0.19, 0.2 nm
... 从初学者到熟练者均可操作 通过全新设计的"Image Navigation"功能，可轻松搜寻视野和拍摄图像 配备全自动图像拼接功能、三维重构、STEM和EDX等选配项，支持多种用途 通过选择高分辨率透镜，实现低损伤、高反差、高分辨率的观察，并可支持in situ观察 其他功能和选配项 HT7800配备自动拼图、漂移校正、自动预辐照等功能及STEM、EDX、各种样品杆、电子束三维重构功能（HT7800标准配置）等选配项，可满足各种解析需求。 "RuliTEM"昵称依据Revolution ...
... 即可观察由高对比度的轻元素组成的物体。 多种成像模式可供选择 LVEM5 是世界上最小的商用透射电子显微镜，具有传统 TEM 中的所有标准成像模式。LVEM5 可以在透射（TEM - 透射电子显微镜）或衍射（SAED - 选区电子衍射）模式下工作，也可以在扫描模式下工作（STEM - 扫描透射电子显微镜和 SEM - 扫描电子显微镜 avec BSE - 背散射电子），空间分辨率可达纳米级。 组件 电子枪采用肖特基场发射器，亮度高，相干性好，使用寿命长达数千小时。电子枪的高亮度和小型虚拟源允许传输和扫描模式。 电子光学中使用了永磁透镜 ...
空间分辨率: 0.05 nm - 0.17 nm
... 这种新型的 "GRAND ARM™2 "可以在很宽的加速电压范围内进行超高空间分辨率的观测和高灵敏度的分析。 FHP2 新开发的物镜极片 FHP 物镜极片针对超高空间分辨率观测进行了优化。 在保持这一功能的同时，还针对大型双 SDD（158 平方毫米）的 X 射线固着角和起飞角进一步优化了极片形状。 因此，FHP2 的有效 X 射线探测效率是 FHP 的两倍多。它可以提供亚埃施尔（sub-angstrom）分辨率的 EDS 元素图。 TEM 柱由箱式外壳覆盖，可减少温度、气流、声噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。 ETA ...
Jeol/日本电子株式会社
空间分辨率: 0.1, 0.07, 0.16, 0.11, 0.25 nm
... 检测器作为高分辨观察轻元素的有效手段已被广泛使用。“NEOARM”支持能增强轻元素衬度的新ABF成像技术（e-ABF：enhanced ABF），实现了对含有轻元素样品的原子级结构的观察。 STEM系统标配的Perfect sight检测器作为混合检测器，采用了由不同材料制成的闪烁器。该检测器具有极佳的宽电压适应性，不依赖于加速电压始终都可以获得高衬度的STEM图像，并可用于定量STEM的分析研究工作。 “NEOARM”标配的Viewing ...
Jeol/日本电子株式会社
空间分辨率: 0.23, 0.19, 0.16, 0.14 nm
... 电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。 四级聚光镜系统 现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。 高端扫描系统 JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced ...
Jeol/日本电子株式会社
... 用于亚纳米级纳米材料表征的UHR SEM 对下一代材料（如催化剂结构、纳米管、纳米颗粒和其他纳米级结构）进行高分辨率和高对比度成像。 适用于亚纳米尺度的SEM/STEM计量的优秀平台 电子束的快速设置--飞行中的光束追踪™保证了最佳的成像条件 多检测器系统TriBE™和TriSE™用于样品的纳米表征 直观的软件模块化平台设计，无论用户的技术水平如何，都可以轻松操作 ...
TESCAN GmbH
... 、薄膜和合成颗粒的纳米级形态、化学和结构特性的多模式表征，具有突出的4D-STEM性能和前所未有的实用性。 扫描与衍射成像、EDS采集和光束消隐的同步化。 集成的、接近实时的4D-STEM数据分析和处理 电子束预演和近UHV的性能优势 STEM用户体验的一种新方法 分析性4D-STEM 电子束与试样相互作用的全貌 4D-STEM是对材料特性（如形态、化学和结构）进行真正的纳米级、多模式表征的首选显微镜方法。在STEM数据集中的每个像素，TESCAN ...
TESCAN GmbH
... 坚固的设计，全金属框架，适用于大学和STEM市场；具有双提手，有8种不同的颜色供实验室识别，LED照明是所有型号的标准。 ...
请说明：
您的建议是我们进步的动力：
剩余字数