TEM显微镜

... 世界上最小的 TEM... LVEM5 是一种紧凑型台式仪器，它将高分辨率成像与光学显微镜的小体积结合在一起。它由四个独立部分组成：显微镜、电子单元、真空系统和 PC。占地面积小、无需暗室、无需冷却水、维修方便......所有这些都使该仪器成为一台多用途的个人或集体电子显微镜。 高对比度 LVEM5 是一种独特的研究工具，无需使用重金属染色和阴影，即可观察由高对比度的轻元素组成的物体。 多种成像模式可供选择 LVEM5 ...

倍率: 50 unit - 1,200,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14 nm
宽度: 840 mm

... 加速电压为 120kV 的透射电子显微镜（TEM）广泛应用于生物和聚合物等软材料领域。我们新开发的 JEM-120i 以 "小巧"、"易用 "和 "可扩展 "为理念。凭借全新的外观，该仪器已发展成为一款从操作到维护，任何人都能轻松使用的实用工具。 功能特点 结构紧凑 由于体积大幅缩小，JEM-120i 的灯丝更换位置和试样夹插入位置均低于现有仪器。新开发的筒式灯丝单元使任何人都能轻松安全地更换灯丝。 仪器正面有一个 LED ...

... 是一台低温电子显微镜（cryo-EM），可在低温条件下观察生物分子。自动样本交换系统最多可储存 12 个样本。此外，该系统还可任意交换一个或多个样本，从而实现灵活的时间安排。此外，结合使用全新设计的柱内欧米茄能量过滤器和无孔相板，还能显著增强生物样本 TEM 图像的对比度。 特点 自动标本交换系统 该系统由一个将样本冷却到液氮温度的样本台和一个将冷却样本自动转移到低温台的低温转移系统组成。根据需要自动向液氮罐供应液氮。该自动化系统最多可储存 ...

空间分辨率: 0.05 nm - 0.17 nm

... 在保持这一功能的同时，还针对大型双 SDD（158 平方毫米）的 X 射线实体角和起飞角进一步优化了极片形状。 因此，FHP2 的有效 X 射线探测效率是 FHP 的两倍多。它可以提供亚埃施尔（sub-angstrom）分辨率的 EDS 元素图。 TEM 柱由箱式外壳覆盖，可减少温度、气流、声噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。 ETA 校正器和 JEOL COSMO™ 快速准确的像差校正 JEOL COSMO™ ...

空间分辨率: 0.1, 0.07, 0.16, 0.11, 0.25 nm

“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器 （ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用日本电子独自开发的像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外，新型STEM检测器不依赖于加速电压就可以获得高衬度的轻元素图像。因此，利用能增强轻元素衬度的新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 为了响应近来已成为主流的远程操作的需求，NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式，主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色，设计精炼时尚。 JEOL ...

空间分辨率: 0.23, 0.19, 0.16, 0.14 nm

... 为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。 JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。 四级聚光镜系统 现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。 高端扫描系统 JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS ...

空间分辨率: 0.14 nm - 0.19 nm

... 2100Plus性能优越，操作方便，简明易懂，能在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。 操作性改进 最新操作软件“TEM Center” 可在64位版本Windows®上运行，简明易懂，适合初学者使用。 功能高度整合 通过整合TEM Center 和高清CCD相机（选配）及扫描透射图像（BF/DF 像）观察功能（选配），在TEM ...

倍率: 2,000 unit - 1,500,000 unit
空间分辨率: 0.1 nm - 0.31 nm

... 经过优化设计的滤波器可提供无失真滤波图像。 控制系统 JEM-2200FS 的主要组件，如光学系统、测角台和排空系统，完全由 PC 控制。该系统能稳定地生成高质量的数据。 成像系统 新型成像系统由四级中间镜头和两级投影镜头组成，可在宽放大倍率和相机长度范围内实现无旋转能量滤波 TEM 图像和衍射图样。 压电控制测角仪 新型测角台采用了压电装置，在搜索原子级视场时操作流畅。 与其他仪器集成 显微镜可完全由 PC 控制。 ...

倍率: 10 unit - 1,500,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14 nm

... 画质之清晰可以与胶片摄影相媲美。此外，和上述的高灵敏度sCMOS相机—瞬Flash相机组合使用，可以自动拍摄到不受像素限制、超广无限的全景照片。 ◇ 新功能 光学显微镜图像联动功能 —Picture Overlay 用光学显微镜等预先获取的数码图像能够在TEM图像上重叠显示。由此，对光学显微镜观察到的萤光部分可以简便地进行高分辨率观察。 ◇ 新设计 纯白色×LED灯组合 新采用了JEOL的品牌颜色—纯白色为基调的简洁时尚的外观设计，而且在操作面板配置了LED灯。同时，为了让客户可以安心地使用仪器 ...

空间分辨率: 4, 60, 0.7, 50, 1.5 nm

“Ethos”采用日立高新的核心技术--高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实时观察。 SEM镜筒内标配3个探测器，可同时观察到二次电子信号的形貌像以及背散射电子信号的成分衬度像；可非常方便的帮助FIB找寻到纳米尺度的目标物，对其观察以及加工分析。 另外，全新设计的超大样品仓设置了多个附件接口，可安装EDS*1和EBSD*2等各种分析仪器。而且NX5000标配超大防振样品台，可全面加工并观察最大直径为150mm的样品。 因此，它不仅可以用于先进半导体器件的检测，而且还可以用于从生物到钢铁磁性材料等各种样品的综合分析。 核心理念 1. ...