眼科3D轮廓测量仪 / 带彩色摄像机

... 在过去的五十年里，布鲁克公司的 Dektak 系统在测针轮廓分析技术领域一直处于行业领先地位，在分辨率、稳定性、速度和多功能性方面取得了里程碑式的改进。现在，Dektak 系统已被公认为测针轮廓仪的黄金标准；在需要精确、可靠的测针轮廓仪时，Dektak 一直是毋庸置疑的解决方案。 Dektak Pro 在测针轮廓分析创新方面又向前迈进了一步，提供了更强的操作性、可靠性和测量精度，以提高和扩展使 Dektak 成为测针轮廓分析代名词的品质。 亮点 基于 55 ...

Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可更大限度地提高测试通量。 鲁棒 自动化设置和操作 基于参考位置和众多测量位置进行编程，以更大限度地提高测试通量并减少出错。 双镜头 摄像机控制 更快地简化测量设置和定位到感兴趣点。 容 业界领先的自动化和分析软件 增强的软件功能使 ...

pMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 TopMap Micro.View是您可以信赖的精密测量技术。相信我们的经验，相信我们的专业知识，相信我们的专家。了解更多关于产品研发的幕后故事。快来加入我们的旅程吧 亮点 纳米级分辨率的高端白光干涉仪 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围 配有自动“对焦仪”和“对焦跟踪器”进行自动化 电动X，Y，Z，倾斜调平台和转塔无需再重新定位 用于缺陷扩展分析和文档记录的颜色信息模式 模块化，特定于应用程序的配置 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 ...