眼科3D轮廓测量仪 / 高解析度

... ContourX-200 光学轮廓仪完美融合了先进的特性分析、可定制的选项和易用性，是同类产品中速度最快、精度最高、重复性最好的非接触式三维表面测量仪。该系统可装载量具，占地面积小，采用更大视场角的 500 万像素数码相机和新型电动 XY 平台，具有无与伦比的 2D/3D 高分辨率测量能力。凭借无与伦比的 Z 轴分辨率和精度，ContourX-200 具有业界公认的布鲁克公司专有白光干涉测量 (WLI) 技术的所有优势，而不受传统共焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的限制。 自动化 功能 启用例行程序，加快测量和分析速度。 电动 XY ...

... ContourX-100 光学轮廓仪以同类最佳的价格为精确、可重复的非接触式表面测量树立了新的标杆。该系统占地面积小，采用了布鲁克公司数十年来专有的白光干涉仪（WLI）创新技术，在精简的封装中提供了不折不扣的 2D/3D 高分辨率测量功能。下一代增强功能包括全新的 500 万像素摄像头和更新的平台，可实现更大的拼接能力，以及全新的测量模式 USI，为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供了更大的便利性和灵活性。没有比 ContourX-100 更物有所值的台式系统了。 行业最佳 Z ...

TopMap Micro.View是易于使用且紧凑的光学轮廓仪。 结合卓越的性能及实惠价格并具有强大的计量解决方案并。Micro.View的垂直测量范围可扩展到100 毫米和CST连续扫描技术，可在纳米分辨率下测量复杂的形貌。 这种便捷的桌面设置具有集成的电子设备，并带有智能聚焦查找器，可简化并加快测量过程。 亮点 在紧凑的装置中测量表面光洁度 非接触式3D地形，粗糙度和纹理的测量 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围 可从特定于应用程序中选择 用于表面表征的显微镜测量系统 白光干涉仪可捕捉精密表面最精细的结构细节。 ...

pMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 TopMap Micro.View是您可以信赖的精密测量技术。相信我们的经验，相信我们的专业知识，相信我们的专家。了解更多关于产品研发的幕后故事。快来加入我们的旅程吧 亮点 纳米级分辨率的高端白光干涉仪 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围 配有自动“对焦仪”和“对焦跟踪器”进行自动化 电动X，Y，Z，倾斜调平台和转塔无需再重新定位 用于缺陷扩展分析和文档记录的颜色信息模式 模块化，特定于应用程序的配置 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 ...

TopMap Pro.Surf 可快速、可靠、精确地确定形状偏差。TopMap Pro.Surf 是一种高端解决方案，具有较高的重复性，非常适合测量计量室或靠近生产区域，甚至是生产线中的精密制造表面。TopMap Pro.Surf 使用诸如平面度、台阶高度和平行度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之，空间分辨率、远心镜头和速度会令您印象深刻 亮点 快速和精确地表征 3D 表面。 非接触式测量原理和可追溯的测量结果 可用于几乎所有表面的智能表面扫描技术和滤光轮 230 ...

新的 TopMap Pro.Surf+ 通过一个步骤即能确定形状偏差和粗糙度，快速、可靠、精确、方便。TopMap Pro.Surf是一种高端解决方案，正在升级以创建一体化设备，这主要归功于集成粗糙度传感器和新的数据采集概念。Pro.Surf+ 非常适合于快速、轻松地测量计量室或靠近生产区域，甚至是生产线中的精密制造表面，这多亏了其所具有的较高的重复 亮点 快速和精确地表征 3D 表面，以及粗糙度测量 一体化系统不会忽略任何细节 非接触式测量原理和可追溯的测量结果 可用于几乎所有表面的智能表面扫描技术和滤光轮 230 ...